컴퓨터 단층촬영 장치와 표준시료를 이용한 시료 공극 측정 시스템 및 그 방법
출원번호 | 201180055763.0 |
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출원일자 | 2013-05-20 |
등록번호 | ZL201180055763.0 |
등록일자 | 2014-12-10 |
발명명칭 | 컴퓨터 단층촬영 장치와 표준시료를 이용한 시료 공극 측정 시스템 및 그 방법 |
발명자 | 진재화 |
국가 | 중국 |
이전유형 | 소액 라이센스 |
이전 상세조건 | 통상실시권 허여 |
기술분야 | 광물자원 |
출원번호 | 201180055763.0 |
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출원일자 | 2013-05-20 |
등록번호 | ZL201180055763.0 |
등록일자 | 2014-12-10 |
발명명칭 | 컴퓨터 단층촬영 장치와 표준시료를 이용한 시료 공극 측정 시스템 및 그 방법 |
발명자 | 진재화 |
국가 | 중국 |
이전유형 | 소액 라이센스 |
이전 상세조건 | 통상실시권 허여 |
기술분야 | 광물자원 |