국가 | 미국 | |||
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등록번호 | US8,542,793 | 등록일 | 2013.09.24 | |
특허권자 | 한국지질자원연구원 | 주발명자 | 진재화 | |
명칭 | 국문 | 컴퓨터 단층촬영 장치와 표준시료를 이용한 시료 공극 측정 시스템 및 그 방법 | ||
영문 | System for measuring sample pore using computed tomography and standard sample and method thereof | |||
특허명세서 | ||||
관련과제 | 한계 유가스전 탐사시스템 및 유망구조도출 기술개발(회수율 증진을 위한 고해상 시추자료 입체분석 및 모델링 기술개발) |